在現代工業(yè)制造領域，針對金屬、鋼材、陶瓷及半導體等材料的非接觸式溫度監(jiān)測至關重要。Optris PI 1M 作為一款高性能短波紅外熱像儀，憑借其獨特的光譜響應特性，解決了高溫及光亮表面測量的技術難題。

短波技術的測量優(yōu)勢

傳統長波紅外設備在測量金屬等高反射率材料時，往往受限于低輻射率導致的讀數不穩(wěn)定。PI 1M 工作在 0.85–1.1 μm 的短波紅外波段，依據普朗克輻射定律，金屬在此波段的輻射能量呈指數級增長，且輻射率顯著高于長波范圍。這一特性降低了反射影響，確保了在 450°C 至 1800°C 寬溫域內測量的準確性與重復性，且無需進行子范圍切換。

高速成像與高分辨率

該設備搭載高動態(tài) CMOS 傳感器，分辨率可達 764×480 像素。為適應不同的工業(yè)節(jié)拍，PI 1M 提供靈活的幀率選擇：在標準分辨率下以 32 Hz 運行以獲取細節(jié)豐富的圖像；在 382×288 像素下提升至 80 Hz；針對快速變化的工藝，更可在 72×56 像素下實現 1 kHz 的超高速幀率。此外，其 1 kHz 線掃描功能特別適用于連續(xù)生產線的溫度分布觀測。

工業(yè)集成與環(huán)境適應性

PI 1M 具備響應時間（低至 1 ms），可通過 USB、模擬及數字接口無縫集成至 PLC 控制系統。配合 PIX Connect 軟件，用戶可實現復雜的數據分析與圖像處理。針對鑄造、鍛造等惡劣環(huán)境，設備支持水冷外殼（耐環(huán)境溫度達 315°C）及空氣吹掃裝置，有效防止粉塵污染與熱損傷，確保設備長期穩(wěn)定運行。

Optris紅外熱像儀生產廠家：https://www.shphgd.com/

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