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1、邏輯壞道：俗稱“軟壞道”。是由軟件安裝或使用錯誤造成的，一般對硬盤本身不會造成太大的危害。
　2、物理壞道：這類壞道就是前段IBM硬盤事件的普遍癥狀。磁頭和磁盤間的間隙僅有0.015~0.025 μm ，這么小的間隙，硬盤在運輸途中，如果受到強烈顛簸，會使硬盤產(chǎn)生物理壞道。除此以外，人為的錯誤也會使一塊硬盤報廢。一些粗心大意的人在裝機時，硬盤螺絲沒有擰緊，為日后的使用埋下了隱患。硬盤工作時的震動也會造成物理壞道的產(chǎn)生。

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